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变压器冲击试验地电位升对智能组件电源端口骚扰的研究

荆永明 高飞 刘欣 梁贵书

高电压技术2020,Vol.46Issue(1):303-311,9.
高电压技术2020,Vol.46Issue(1):303-311,9.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20181206013

变压器冲击试验地电位升对智能组件电源端口骚扰的研究

Study on the Disturbance for Power Port of Intelligent Component Caused by Ground Potential Rise During Transformer Lightning Impulse Tests

荆永明 1高飞 2刘欣 1梁贵书1

作者信息

  • 1. 华北电力大学电力工程系,保定071003
  • 2. 中国电力科学研究院有限公司,北京100192
  • 折叠

摘要

关键词

雷电冲击试验/回路电流/地电位升/智能组件/骚扰电压

引用本文复制引用

荆永明,高飞,刘欣,梁贵书..变压器冲击试验地电位升对智能组件电源端口骚扰的研究[J].高电压技术,2020,46(1):303-311,9.

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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