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差分过孔焊环及反焊环对高速信号完整性影响的实验研究

纪成光 秦典成 陈正清 刘梦茹

电子器件2020,Vol.43Issue(2):456-461,6.
电子器件2020,Vol.43Issue(2):456-461,6.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2020.02.039

差分过孔焊环及反焊环对高速信号完整性影响的实验研究

The Influence of Differential Via Hole Pad on High Speed Signal Integrity Based on Experiments

纪成光 1秦典成 2陈正清 1刘梦茹2

作者信息

  • 1. 生益电子股份有限公司,广东 东莞523127
  • 2. 广东省高端通讯印制电路板工程技术研究开发中心,广东 东莞523127
  • 折叠

摘要

关键词

印制电路板/高速信号/网络分析仪/过孔/差分阻抗/回波损耗/插入损耗

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

纪成光,秦典成,陈正清,刘梦茹..差分过孔焊环及反焊环对高速信号完整性影响的实验研究[J].电子器件,2020,43(2):456-461,6.

基金项目

广东省东莞市重大科技专项项目( 2018215105011) ( 2018215105011)

电子器件

OA北大核心CSTPCD

1005-9490

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