原子能科学技术2020，Vol.54Issue(5)：857-862,6.DOI:10.7538/yzk.2019.youxian.0739
基于差频检测技术的高速AD单粒子翻转评估方法研究
SEU Characterization of High-speed Analog-to-digital Converter Based on Beat Frequency
彭惠薪 1李哲 1郑宏超 1于春青1
作者信息
- 1. 北京微电子技术研究所,北京 100076
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摘要
关键词
高速AD/差频/单粒子翻转/敏感性分析分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
彭惠薪,李哲,郑宏超,于春青..基于差频检测技术的高速AD单粒子翻转评估方法研究[J].原子能科学技术,2020,54(5):857-862,6.
