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受激辐射损耗超分辨显微成像系统研究的新进展

王佳林严伟张佳王璐玮杨志刚屈军乐

物理学报2020，Vol.69Issue(10)：71-92,22.

物理学报2020，Vol.69Issue(10)：71-92,22.DOI:10.7498/aps.69.20200168

受激辐射损耗超分辨显微成像系统研究的新进展

New advances in the research of stimulated emission depletion super-resolution microscopy

王佳林 ¹严伟 ¹张佳 ¹王璐玮 ¹杨志刚 ¹屈军乐¹

作者信息

1. 深圳大学物理与光电工程学院,光电子器件与系统教育部/广东省重点实验室,深圳 518060
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摘要

关键词

受激辐射损耗显微/三维成像/多色成像/超分辨

引用本文复制引用

王佳林,严伟,张佳,王璐玮,杨志刚,屈军乐..受激辐射损耗超分辨显微成像系统研究的新进展[J].物理学报,2020,69(10):71-92,22.

基金项目

国家重点基础研究发展计划(批准号:2017YFA0700500)、国家自然科学基金(批准号:61975127,61525503,61620106016,61835009,81727804)、广东省高等学校科技创新(重点)项目(批准号:2016KCXTD007)、广东省自然科学基金创新团队项目(批准号:2014A030312008)和深圳市基础研究项目(批准号:JCYJ2018030512304883,JCY20170818100153423)资助的课题. （批准号:2017YFA0700500）

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

ISSN：1000-3290

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