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基于重离子试验数据预测纳米加固静态随机存储器质子单粒子效应敏感性

罗尹虹 张凤祁 郭红霞 Wojtek Hajdas

物理学报2020,Vol.69Issue(1):334-342,9.
物理学报2020,Vol.69Issue(1):334-342,9.DOI:10.7498/aps.69.20190878

基于重离子试验数据预测纳米加固静态随机存储器质子单粒子效应敏感性

Prediction of proton single event upset sensitivity based on heavy ion test data in nanometer hardened static random access memory

罗尹虹 1张凤祁 1郭红霞 1Wojtek Hajdas2

作者信息

  • 1. 西北核技术研究院,强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,西安710024
  • 2. 保罗谢勒研究所,菲林根 5232 瑞士
  • 折叠

摘要

关键词

双双互锁存储单元加固/单粒子翻转/质子/最劣方位角

引用本文复制引用

罗尹虹,张凤祁,郭红霞,Wojtek Hajdas..基于重离子试验数据预测纳米加固静态随机存储器质子单粒子效应敏感性[J].物理学报,2020,69(1):334-342,9.

基金项目

国家自然科学基金重大项目(批准号:11690043,11690040)资助的课题. (批准号:11690043,11690040)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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