| 注册
首页|期刊导航|光通信研究|一种测量圆柱腔内壁介质薄膜厚度的方法

一种测量圆柱腔内壁介质薄膜厚度的方法

张淑娥 喻星源

光通信研究Issue(2):50-56,7.
光通信研究Issue(2):50-56,7.DOI:10.13756/j.gtxyj.2020.02.011

一种测量圆柱腔内壁介质薄膜厚度的方法

A Method for Measuring the Thickness of Dielectric Thin Films on the Inner Wall of a Cylindrical Cavity

张淑娥 1喻星源1

作者信息

  • 1. 华北电力大学 电气与电子工程学院,河北 保定 071003
  • 折叠

摘要

关键词

介质微扰法/圆柱形谐振腔/介质薄膜厚度/水膜厚度/TE111模式

分类

能源科技

引用本文复制引用

张淑娥,喻星源..一种测量圆柱腔内壁介质薄膜厚度的方法[J].光通信研究,2020,(2):50-56,7.

基金项目

河北省自然科学基金资助项目(E2019502039) (E2019502039)

光通信研究

OACSTPCD

1005-8788

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文