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探头影响SiC MOSFET暂态稳定的阻抗建模

曾正 余跃 欧开鸿 王金

中国电机工程学报2020,Vol.40Issue(9):2983-2995,13.
中国电机工程学报2020,Vol.40Issue(9):2983-2995,13.DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.190263

探头影响SiC MOSFET暂态稳定的阻抗建模

Impedance-based Transient Stability Modeling of SiC MOSFET Influenced by Probes

曾正 1余跃 1欧开鸿 1王金1

作者信息

  • 1. 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学),重庆市沙坪坝区400044
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摘要

关键词

碳化硅金属-氧化物-半导体场效应晶体管/暂态不稳定/测量探头/阻抗建模

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

曾正,余跃,欧开鸿,王金..探头影响SiC MOSFET暂态稳定的阻抗建模[J].中国电机工程学报,2020,40(9):2983-2995,13.

基金项目

国家重点研发计划(2017YFB0102303) (2017YFB0102303)

中央高校基本科研业务费资助(2019CDXYDQ0010). (2019CDXYDQ0010)

中国电机工程学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0258-8013

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