家电科技Issue(3)：107-109,3.DOI:10.19784/j.cnki.issn1672-0172.2020.03.017
片式电阻硫化机理及失效分析
Sulfuration mechanism and failure analysis of chip resistors
林春贤 1杨玉丽1
作者信息
- 1. 珠海格力电器股份有限公司 广东珠海519070
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摘要
关键词
片式电阻/硫化/失效分析分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
林春贤,杨玉丽..片式电阻硫化机理及失效分析[J].家电科技,2020,(3):107-109,3.
