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多电压与扫描链技术在芯片设计中的应用研究

向韬鑫 王仁平 刘东明 陈荣林

电气技术2020,Vol.21Issue(6):35-38,4.
电气技术2020,Vol.21Issue(6):35-38,4.

多电压与扫描链技术在芯片设计中的应用研究

Research on application of multi-voltage and scan chain technology in chip design

向韬鑫 1王仁平 1刘东明 1陈荣林1

作者信息

  • 1. 福州大学物理与信息工程学院,福州 350108
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摘要

关键词

低功耗/扫描链/多电压/物理设计/统一标准格式

引用本文复制引用

向韬鑫,王仁平,刘东明,陈荣林..多电压与扫描链技术在芯片设计中的应用研究[J].电气技术,2020,21(6):35-38,4.

电气技术

1673-3800

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