| 注册
首页|期刊导航|量子电子学报|雪崩光电二极管性能测试系统的研究

雪崩光电二极管性能测试系统的研究

尹航 洪占勇 丁传杨

量子电子学报2020,Vol.37Issue(3):321-327,7.
量子电子学报2020,Vol.37Issue(3):321-327,7.DOI:10.3969/j.issn.1007-5461.2020.03.010

雪崩光电二极管性能测试系统的研究

Research of performance test system of avalanche diode

尹航 1洪占勇 2丁传杨1

作者信息

  • 1. 安徽省航空结构件成形制造与装备实验室, 安徽 合肥 230009
  • 2. 合肥工业大学工业与装备技术研究院, 安徽 合肥 230009
  • 折叠

摘要

关键词

光电子学/性能测试系统/时间数字转换器/光子计数/单光子源/雪崩光电二极管

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

尹航,洪占勇,丁传杨..雪崩光电二极管性能测试系统的研究[J].量子电子学报,2020,37(3):321-327,7.

基金项目

Supported by Project of Anhui Key Laboratory(安徽省重点实验室资助项目,W2018JSKF0065) (安徽省重点实验室资助项目,W2018JSKF0065)

量子电子学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-5461

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文