物理学报2020，Vol.69Issue(12)：113-130,18.DOI:10.7498/aps.69.20200301
利用X射线衍射技术对压电材料本征与非本征起源探究的研究进展
Research progress of the investigation of intrinsic and extrinsic origin of piezoelectric materials by X-ray diffraction
张冠杰 1杨豪 1张楠1
作者信息
- 1. 西安交通大学,电子科学与工程学院,电子陶瓷与器件教育部重点实验室、国际电介质研究中心,西安 710049
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张冠杰,杨豪,张楠..利用X射线衍射技术对压电材料本征与非本征起源探究的研究进展[J].物理学报,2020,69(12):113-130,18.
