物理学报2020，Vol.69Issue(12)：205-210,6.DOI:10.7498/aps.69.20200275
低损耗材料微波介电性能测试中识别TE01δ模式的新方法
A new method for identifying TE01δ mode during microwave dielectric measurements of low-loss materials
摘要
关键词
微波介电测试/TE01δ模式/模式识别/有限单元分析引用本文复制引用
李雷,颜涵,陈湘明..低损耗材料微波介电性能测试中识别TE01δ模式的新方法[J].物理学报,2020,69(12):205-210,6.基金项目
国家重点研发计划(批准号:2017YFB0406301)资助的课题. （批准号:2017YFB0406301）
