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普通散绕绕组绝缘结构优化试验研究

张生德 高鑫 马赫然

电机与控制应用2020,Vol.47Issue(5):70-74,5.
电机与控制应用2020,Vol.47Issue(5):70-74,5.DOI:10.12177/emca.2020.028

普通散绕绕组绝缘结构优化试验研究

Experimental Study on Optimization of Insulation Structure of Ordinary Random Winding

张生德 1高鑫 2马赫然2

作者信息

  • 1. 上海电器科学研究院,上海200063
  • 2. 上海电机系统节能工程技术研究中心有限公司,上海200063
  • 折叠

摘要

关键词

绝缘结构/偏心度/模型线圈/寿命/耐热等级

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张生德,高鑫,马赫然..普通散绕绕组绝缘结构优化试验研究[J].电机与控制应用,2020,47(5):70-74,5.

电机与控制应用

OACSTPCD

1673-6540

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