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基于AD598的LVDT电路稳定性分析

罗星 王少永 张晓诚

测控技术2020,Vol.39Issue(6):14-17,4.
测控技术2020,Vol.39Issue(6):14-17,4.DOI:10.19708/j.ckjs.2020.06.003

基于AD598的LVDT电路稳定性分析

Stability Analysis of LVDT Circuit Based on AD598

罗星 1王少永 1张晓诚1

作者信息

  • 1. 中国航发控制系统研究所,江苏无锡214063
  • 折叠

摘要

关键词

LVDT/AD598/电路稳定性/幅频响应

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

罗星,王少永,张晓诚..基于AD598的LVDT电路稳定性分析[J].测控技术,2020,39(6):14-17,4.

测控技术

OACSTPCD

1000-8829

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