光学精密工程2020，Vol.28Issue(5)：1005-1011,7.DOI:10.3788/OPE.20202805.1005
透明红外硫系薄膜非均匀性检测及影响因素
Optical non-uniformity test of transparent infrared chalcogenide film and influencing factors
摘要
关键词
红外薄膜/改进的Swanepoel方法/光学均匀性/无损检测分类
数理科学引用本文复制引用
姚玉明,宋宝安,肖传富,戴世勋..透明红外硫系薄膜非均匀性检测及影响因素[J].光学精密工程,2020,28(5):1005-1011,7.基金项目
浙江省自然科学基金资助项目(No.LY19F050003) （No.LY19F050003）
宁波大学王宽诚幸福基金资助项目 （）
