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基于故障物理的电子产品可靠性分析

陈胜坚 段桂环 李文禹

现代信息科技2020,Vol.4Issue(8):47-50,4.
现代信息科技2020,Vol.4Issue(8):47-50,4.DOI:10.19850/j.cnki.2096-4706.2020.08.016

基于故障物理的电子产品可靠性分析

Reliability Analysis of Electronic Products Based on Fault Physics

陈胜坚 1段桂环 2李文禹2

作者信息

  • 1. 广州广电计量检测股份有限公司,广东广州 510656
  • 2. 广电计量检测(武汉)有限公司,湖北武汉 430070
  • 折叠

摘要

关键词

故障物理/可靠性/仿真分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈胜坚,段桂环,李文禹..基于故障物理的电子产品可靠性分析[J].现代信息科技,2020,4(8):47-50,4.

现代信息科技

2096-4706

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