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245 GHz接收机芯片片外测试与实验

毛燕飞 鄂世举 SCHMALZ Klaus SCHEYTT J Christoph 颜素莉

太赫兹科学与电子信息学报2020，Vol.18Issue(3)：358-363,6.
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太赫兹科学与电子信息学报2020，Vol.18Issue(3)：358-363,6.DOI:10.11805/TKYDA2019180

245 GHz接收机芯片片外测试与实验

Off-chip measurement and experiment of 245 GHz receiver chip

毛燕飞 1鄂世举 2SCHMALZ Klaus 1SCHEYTT J Christoph 3颜素莉4

作者信息

  • 1. 浙江师范大学 工学院,浙江 金华 321000
  • 2. 东南大学 毫米波国家重点实验室,江苏 南京 211189
  • 3. IHP,Microelectronics,Frankfurt Oder,15236,Germany
  • 4. Heinz Nixdorf Institute,Paderborn University,33102,Germany
  • 折叠

摘要

关键词

245GHz次谐波接收机/片外测试系统/片外展示测试系统/气体频谱分析传感器系统/高增益/高带宽/低功耗

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

毛燕飞,鄂世举,SCHMALZ Klaus,SCHEYTT J Christoph,颜素莉..245 GHz接收机芯片片外测试与实验[J].太赫兹科学与电子信息学报,2020,18(3):358-363,6.

基金项目

浙江省自然科学基金项目资助(LQ17F040001) （LQ17F040001）

东南大学毫米波国家重点实验室开放项目资助(K201817) （K201817）

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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