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一种基于FP-growth算法的变电站二次设备缺陷分析方法

肖永立 刘松 见伟 宋亚奇

电测与仪表2020，Vol.57Issue(12)：83-90,8.
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电测与仪表2020，Vol.57Issue(12)：83-90,8.DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2020.12.013

一种基于FP-growth算法的变电站二次设备缺陷分析方法

A kind of defects analysis method for secondary device of substation based on FP-growth algorithm

肖永立 1刘松 2见伟 2宋亚奇3

作者信息

  • 1. 国网北京市电力公司检修分公司,北京100069
  • 2. 北京中泰华电科技有限公司,北京100080
  • 3. 华北电力大学控制与计算机学院,河北保定071000
  • 折叠

摘要

关键词

二次设备/缺陷分析/关联规则/FP-growth算法

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

肖永立,刘松,见伟,宋亚奇..一种基于FP-growth算法的变电站二次设备缺陷分析方法[J].电测与仪表,2020,57(12):83-90,8.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(51677072) （51677072）

电测与仪表

OA北大核心CSTPCD

1001-1390

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