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电子设备电磁辐射敏感度测试相关问题研究

潘晓东 魏光辉 万浩江 卢新福 赵凯

强激光与粒子束2020,Vol.32Issue(7):74-80,7.
强激光与粒子束2020,Vol.32Issue(7):74-80,7.DOI:10.11884/HPLPB202032.200088

电子设备电磁辐射敏感度测试相关问题研究

Research on several test issues of electromagnetic radiation susceptibility for electronic equipment

潘晓东 1魏光辉 1万浩江 1卢新福 1赵凯1

作者信息

  • 1. 陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应重点实验室,石家庄 050003
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摘要

关键词

电磁辐射/敏感度/测试技术/电磁兼容

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

潘晓东,魏光辉,万浩江,卢新福,赵凯..电子设备电磁辐射敏感度测试相关问题研究[J].强激光与粒子束,2020,32(7):74-80,7.

基金项目

国家自然科学基金项目( 61372040) ( 61372040)

河北省自然科学基金项目( E2019506032) ( E2019506032)

强激光与粒子束

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-4322

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