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高质量扫描透射电子显微镜高角环形暗场像的实验关键点

郝龙龙 覃丽禄

实验科学与技术2020,Vol.18Issue(3):7-10,49,5.
实验科学与技术2020,Vol.18Issue(3):7-10,49,5.DOI:10.12179/1672-4550.20190123

高质量扫描透射电子显微镜高角环形暗场像的实验关键点

The Experimental Key Points in Acquiring High Quality HAADF-STEM Images

郝龙龙 1覃丽禄2

作者信息

  • 1. 重庆大学材料科学与工程学院,重庆400044
  • 2. 重庆大学电子显微镜中心,重庆400044
  • 折叠

摘要

关键词

高角环形暗场像/扫描透射电镜/高分辨

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

郝龙龙,覃丽禄..高质量扫描透射电子显微镜高角环形暗场像的实验关键点[J].实验科学与技术,2020,18(3):7-10,49,5.

基金项目

国家自然科学基金(51701031). (51701031)

实验科学与技术

1672-4550

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