电子器件2020，Vol.43Issue(3)：500-504,5.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2020.03.005
SN74LS00N芯片高电平输出特性的理论与实验研究
Theoretical and Experimental Studies on the High-Level Output Property of SN74LS00N Chips
摘要
关键词
TTL门电路/集成与非门/SN74LS00N/高电平输出特性/拉电流分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
刘晓东,涂丽平..SN74LS00N芯片高电平输出特性的理论与实验研究[J].电子器件,2020,43(3):500-504,5.基金项目
国家教育部回国人员科研启动基金项目(第48批) （第48批）
