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AFM轻敲模式下扫描参数对成像质量影响的研究

陈建超 安小广 冯世绪 王加春

计量学报2020,Vol.41Issue(7):789-795,7.
计量学报2020,Vol.41Issue(7):789-795,7.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2020.07.04

AFM轻敲模式下扫描参数对成像质量影响的研究

Research on the Influence of Scanning Parameters on Imaging Quality in AFM Tapping Mode

陈建超 1安小广 2冯世绪 1王加春1

作者信息

  • 1. 燕山大学机械工程学院,河北秦皇岛066004
  • 2. 河北省重型智能制造装备技术创新中心,河北秦皇岛066004
  • 折叠

摘要

关键词

计量学/原子力显微镜/扫描参数/成像质量/轻敲模式/幅值误差

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

陈建超,安小广,冯世绪,王加春..AFM轻敲模式下扫描参数对成像质量影响的研究[J].计量学报,2020,41(7):789-795,7.

基金项目

河北省自然科学基金(E2018203440/E2018203403) (E2018203440/E2018203403)

河北省高等学校自然科学研究青年基金(QN2016004) (QN2016004)

中央高校基本科研业务费专项资金(30917014101) (30917014101)

燕山大学青年教师自主研究计划(15LGB001) (15LGB001)

计量学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-1158

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