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电子元器件低频电噪声测试关键技术研究

付海滨

现代信息科技2020,Vol.4Issue(10):58-59,2.
现代信息科技2020,Vol.4Issue(10):58-59,2.DOI:10.19850/j.cnki.2096-4706.2020.10.019

电子元器件低频电噪声测试关键技术研究

Research on Key Technology of Low Frequency Electrical Noise Measurement for Electronic Components

付海滨1

作者信息

  • 1. 牡丹江市人民政府政务信息化中心,黑龙江牡丹江 157022
  • 折叠

摘要

关键词

电子元器件/低频噪声/测试参数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

付海滨..电子元器件低频电噪声测试关键技术研究[J].现代信息科技,2020,4(10):58-59,2.

现代信息科技

2096-4706

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