真空电子技术Issue(3)：64-66,71,4.DOI:10.16540/j.cnki.cn11-2485/tn.2020.03.12
碳化工艺对碳化钍钨热电子阴极微观组织与残余应力的影响
Influence of Carbonization Process on Microstructure and Residual Stress of Th-W Carbonized Cathodes
摘要
关键词
碳化工艺/热电子阴极/碳化钍钨/残余应力分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
葛春桥,王贤友..碳化工艺对碳化钍钨热电子阴极微观组织与残余应力的影响[J].真空电子技术,2020,(3):64-66,71,4.基金项目
广东省省级科技计划项目(2013B090500083) （2013B090500083）
