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基于递推最小二乘算法的合成试验控制方法研究

尹立君 蔡志远

电器与能效管理技术Issue(4):11-17,7.
电器与能效管理技术Issue(4):11-17,7.DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2020.04.003

基于递推最小二乘算法的合成试验控制方法研究

Research on Control Method of Synthetic Test Based on Recursive Least Square Algorithm

尹立君 1蔡志远1

作者信息

  • 1. 沈阳工业大学电气工程学院,辽宁沈阳 110870
  • 折叠

摘要

关键词

递推最小二乘算法/合成试验/遗忘因子/断路器

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

尹立君,蔡志远..基于递推最小二乘算法的合成试验控制方法研究[J].电器与能效管理技术,2020,(4):11-17,7.

基金项目

SF6高压断路器弧后介质绝缘强度恢复机理及控制方法研究(项目批准号516370051637006) (项目批准号516370051637006)

电器与能效管理技术

2095-8188

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