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典型模拟电路性能退化仿真技术研究

聂国健 于迪 常玉春 刘岩 杨云 李欣荣

吉林大学学报(信息科学版)2020,Vol.38Issue(3):243-249,7.
吉林大学学报(信息科学版)2020,Vol.38Issue(3):243-249,7.

典型模拟电路性能退化仿真技术研究

Research on Simulation Technology of Typical Analog Circuit Performance Degradation

聂国健 1于迪 1常玉春 2刘岩 2杨云 1李欣荣1

作者信息

  • 1. 工业和信息化部电子第五研究所可靠性数据中心,广州510610
  • 2. 大连理工大学微电子学院,辽宁大连116000
  • 折叠

摘要

关键词

模拟电路/性能退化/可靠性/仿真

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

聂国健,于迪,常玉春,刘岩,杨云,李欣荣..典型模拟电路性能退化仿真技术研究[J].吉林大学学报(信息科学版),2020,38(3):243-249,7.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(11975066) (11975066)

科工局技术基础科研基金资助项目(JSZL2017610B001) (JSZL2017610B001)

吉林大学学报(信息科学版)

OACSTPCD

1671-5896

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