电子器件2020，Vol.43Issue(4)：888-893,6.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2020.04.034
基于可编程芯片的数字电路测试技术
Digital Circuit Testing Technology Based on Programmable Chip
何海 1沈英 1王琦龙2
作者信息
- 1. 南京电子技术研究所,江苏 南京210013
- 2. 东南大学电子科学与工程学院,江苏 南京210096
- 折叠
摘要
关键词
故障诊断/故障隔离定位/测试软件重构/FPGA分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
何海,沈英,王琦龙..基于可编程芯片的数字电路测试技术[J].电子器件,2020,43(4):888-893,6.
