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基于串扰耦合的BGA焊点裂纹故障非接触测试方法

杨哲 尚玉玲

桂林电子科技大学学报2020,Vol.40Issue(2):113-117,5.
桂林电子科技大学学报2020,Vol.40Issue(2):113-117,5.

基于串扰耦合的BGA焊点裂纹故障非接触测试方法

Contactless test method for BGA crack fault based on crosstalk coupling

杨哲 1尚玉玲1

作者信息

  • 1. 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,广西桂林541004
  • 折叠

摘要

关键词

BGA焊点/串扰耦合/非接触测试/焊点裂纹故障

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨哲,尚玉玲..基于串扰耦合的BGA焊点裂纹故障非接触测试方法[J].桂林电子科技大学学报,2020,40(2):113-117,5.

基金项目

国家自然科学基金(61661013) (61661013)

广西自然科学基金(2018GXNSFAA281327) (2018GXNSFAA281327)

桂林电子科技大学学报

1673-808X

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