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芯片铜互连研究及进展

金磊 杨家强 杨防祖 詹东平 田中群 周绍民

电化学2020,Vol.26Issue(4):521-530,10.
电化学2020,Vol.26Issue(4):521-530,10.DOI:10.13208/j.electrochem.200212

芯片铜互连研究及进展

Research Progresses of Copper Interconnection in Chips

金磊 1杨家强 1杨防祖 1詹东平 1田中群 1周绍民1

作者信息

  • 1. 固体表面物理化学国家重点实验室,厦门大学化学化工学院,福建厦门361005
  • 折叠

摘要

关键词

芯片/铜互连/酸性硫酸铜电镀/添加剂

分类

化学化工

引用本文复制引用

金磊,杨家强,杨防祖,詹东平,田中群,周绍民..芯片铜互连研究及进展[J].电化学,2020,26(4):521-530,10.

基金项目

国家自然科学基金项目(No.21972118,No.21827802)资助 (No.21972118,No.21827802)

电化学

OA北大核心CSCDCSTPCD

1006-3471

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