中国电机工程学报2020，Vol.40Issue(18)：5770-5778,中插6,10.DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.200818
基于组合短路电流的不受老化影响的IGBT模块结温测量方法
Junction Temperature Measurement of IGBT Based on Combined Short-circuit Current That Not Affected by Aging Effect
杨舒萌 1孙鹏菊 1杜雄 1刘奥博 1罗全明 1李子东2
作者信息
- 1. 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学),重庆市 沙坪坝区 400044
- 2. 国网重庆市电力公司设备管理部,重庆市 沙坪坝区 400044
- 折叠
摘要
关键词
绝缘栅双极晶体管/结温测量/组合短路电流/键合线老化/温敏电参数分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
杨舒萌,孙鹏菊,杜雄,刘奥博,罗全明,李子东..基于组合短路电流的不受老化影响的IGBT模块结温测量方法[J].中国电机工程学报,2020,40(18):5770-5778,中插6,10.
