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基于GARCH模型的IGBT寿命预测

白梁军 黄萌 饶臻 潘尚智 查晓明 刘国友

中国电机工程学报2020,Vol.40Issue(18):5787-5795,中插8,10.
中国电机工程学报2020,Vol.40Issue(18):5787-5795,中插8,10.DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.200648

基于GARCH模型的IGBT寿命预测

Lifetime Prediction of IGBT Based on GARCH Model

白梁军 1黄萌 1饶臻 1潘尚智 1查晓明 1刘国友2

作者信息

  • 1. 武汉大学电气与自动化学院,湖北省 武汉市 430072
  • 2. 新型功率半导体器件国家重点实验室 (株洲中车时代电气股份有限公司),湖南省 株洲市 412001
  • 折叠

摘要

关键词

IGBT模块/RUL预测/失效机理/GARCH模型

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

白梁军,黄萌,饶臻,潘尚智,查晓明,刘国友..基于GARCH模型的IGBT寿命预测[J].中国电机工程学报,2020,40(18):5787-5795,中插8,10.

基金项目

国家自然科学基金重点项目(51637007). (51637007)

中国电机工程学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0258-8013

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