太赫兹科学与电子信息学报2020，Vol.18Issue(5)：951-955,5.DOI:10.11805/TKYDA2019052
基于A-Scan和C-Scan的多层陶瓷结构介质缺陷无损检测
Nondestructive testing of MCS dielectric defect based on A-Scan and C-Scan of Ultrasonic Test
何志刚 1梁栋程 1龚国虎 1王晓敏1
作者信息
- 1. 中国工程物理研究院 计量测试中心,四川 绵阳 621999
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摘要
关键词
多层陶瓷结构/高温共烧陶瓷/低温共烧陶瓷/超声检测/A模式扫描/C模式扫描分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
何志刚,梁栋程,龚国虎,王晓敏..基于A-Scan和C-Scan的多层陶瓷结构介质缺陷无损检测[J].太赫兹科学与电子信息学报,2020,18(5):951-955,5.
