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铜工艺阵列基板上数据线和公共电极不可见的短路原因分析及改善

林忱 冯玉春 陈曦 汤桂泉 李鑫 周贺 刘文瑞 贠向南

液晶与显示2020,Vol.35Issue(10):1036-1043,8.
液晶与显示2020,Vol.35Issue(10):1036-1043,8.DOI:10.37188/YJYXS20203510.1036

铜工艺阵列基板上数据线和公共电极不可见的短路原因分析及改善

Research and improvement of data line and common line invisible short in copper process array substrate

林忱 1冯玉春 1陈曦 1汤桂泉 1李鑫 1周贺 1刘文瑞 1贠向南1

作者信息

  • 1. 福州京东方光电科技有限公司,福建福州350300
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摘要

关键词

铜工艺/不可见/数据线/公共电极/短路

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

林忱,冯玉春,陈曦,汤桂泉,李鑫,周贺,刘文瑞,贠向南..铜工艺阵列基板上数据线和公共电极不可见的短路原因分析及改善[J].液晶与显示,2020,35(10):1036-1043,8.

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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