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多晶硅纳米薄膜压阻和电学修正特性

陆学斌 于斌

传感技术学报2020,Vol.33Issue(7):956-960,5.
传感技术学报2020,Vol.33Issue(7):956-960,5.DOI:10.3969/j.issn.1004-1699.2020.07.006

多晶硅纳米薄膜压阻和电学修正特性

Piezoresistive and Electrical Trimming Characteristics of Polysilicon Nanofilm

陆学斌 1于斌1

作者信息

  • 1. 哈尔滨理工大学软件与微电子学院,黑哈尔滨150080
  • 折叠

摘要

关键词

多晶硅纳米薄膜/压阻特性/电学修正/传感器

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陆学斌,于斌..多晶硅纳米薄膜压阻和电学修正特性[J].传感技术学报,2020,33(7):956-960,5.

基金项目

黑龙江省自然科学基金项目(F2018018,F2018020) (F2018018,F2018020)

传感技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-1699

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