电子学报2020，Vol.48Issue(8)：1623-1630,8.DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2020.08.022
一种集成电路测试流程分级动态调整方法
Hierarchical Dynamic Adjustment Method for Integrated Circuit Testing Process
摘要
关键词
自适应测试/测试类型排序/测试向量排序/贝叶斯统计/泊松分布分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
詹文法,邵志伟..一种集成电路测试流程分级动态调整方法[J].电子学报,2020,48(8):1623-1630,8.基金项目
安徽省高校协同创新项目(No.GXXT-2019-030) （No.GXXT-2019-030）
安徽省技术带头人及后备人选(No.gxbjZD2016075,No.2015H053) （No.gxbjZD2016075,No.2015H053）
国家自然科学基金(No.61306046,No.61640421) （No.61306046,No.61640421）
