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12 kV开关柜内部电弧故障两相试验研究与分析

胡丁尹 宇文博 金庆滨 彭剑飞 者永祥 李阳 冯伦 何冰

低压电器Issue(9):72-78,7.
低压电器Issue(9):72-78,7.DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2020.09.014

12 kV开关柜内部电弧故障两相试验研究与分析

Research and Analysis of Two-Phase Arc Fault Test in 12 kV Switchgear

胡丁尹 1宇文博 1金庆滨 1彭剑飞 1者永祥 1李阳 1冯伦 1何冰1

作者信息

  • 1. 西安高压电器研究院有限责任公司,陕西 西安 710077
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摘要

关键词

内部电弧/两相故障/三相故障/相位/不确定性/电流峰值

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

胡丁尹,宇文博,金庆滨,彭剑飞,者永祥,李阳,冯伦,何冰..12 kV开关柜内部电弧故障两相试验研究与分析[J].低压电器,2020,(9):72-78,7.

低压电器

1001-5531

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