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ICP设备光刻胶灰化工艺中膜层残留的改善

查甫德 陈正伟 郑载润 徐纯洁 李根范 张木 崔立加 冯耀耀 朱梅花 杨增乾 刘增利

液晶与显示2020,Vol.35Issue(12):1264-1269,6.
液晶与显示2020,Vol.35Issue(12):1264-1269,6.DOI:10.37188/YJYXS20203512.1264

ICP设备光刻胶灰化工艺中膜层残留的改善

Preventing method of film residue in PR ashing process based on ICP etcher

查甫德 1陈正伟 1郑载润 1徐纯洁 1李根范 1张木 1崔立加 1冯耀耀 1朱梅花 1杨增乾 1刘增利1

作者信息

  • 1. 合肥鑫晟光电科技有限公司,安徽 合肥230011
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摘要

关键词

感应耦合等离子体/灰化/膜层残留/物理刻蚀/氧化

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

查甫德,陈正伟,郑载润,徐纯洁,李根范,张木,崔立加,冯耀耀,朱梅花,杨增乾,刘增利..ICP设备光刻胶灰化工艺中膜层残留的改善[J].液晶与显示,2020,35(12):1264-1269,6.

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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