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基于AttentionGAN和形态学重建的TFT阵列缺陷检测

陈炜炜 严群 姚剑敏

液晶与显示2020,Vol.35Issue(12):1270-1277,8.
液晶与显示2020,Vol.35Issue(12):1270-1277,8.DOI:10.37188/YJYXS20203512.1270

基于AttentionGAN和形态学重建的TFT阵列缺陷检测

TFT array defect detection based on AttentionGAN and morphological reconstruction

陈炜炜 1严群 1姚剑敏2

作者信息

  • 1. 福州大学 物理与信息工程学院,福建 福州 350108
  • 2. 晋江市博感电子科技有限公司,福建 晋江362200
  • 折叠

摘要

关键词

TFT-LCD/缺陷检测/生成式对抗网络/形态学重建

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈炜炜,严群,姚剑敏..基于AttentionGAN和形态学重建的TFT阵列缺陷检测[J].液晶与显示,2020,35(12):1270-1277,8.

基金项目

国家重点研发计划课题(No.2016YFB0401503) (No.2016YFB0401503)

广东省科技重大专项(No.2016B090906001) (No.2016B090906001)

福建省科技重大专项(No.2014HZ0003-1) (No.2014HZ0003-1)

广东省光信息材料与技术重点实验室开放基金(No.2017B030301007) (No.2017B030301007)

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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