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基于高光谱技术的绝缘子污秽成分识别方法

邱彦 郭裕钧 张血琴 刘凯 刘毅杰 吴广宁

高电压技术2020,Vol.46Issue(11):4023-4030,8.
高电压技术2020,Vol.46Issue(11):4023-4030,8.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20200402001

基于高光谱技术的绝缘子污秽成分识别方法

Identification Method of Insulator Pollution Components Based on Hyperspectral Technology

邱彦 1郭裕钧 1张血琴 1刘凯 1刘毅杰 1吴广宁1

作者信息

  • 1. 西南交通大学电气工程学院,成都611756
  • 折叠

摘要

关键词

高光谱技术/绝缘子/污秽成分/竞争性自适应重加权采样/随机森林

引用本文复制引用

邱彦,郭裕钧,张血琴,刘凯,刘毅杰,吴广宁..基于高光谱技术的绝缘子污秽成分识别方法[J].高电压技术,2020,46(11):4023-4030,8.

基金项目

国家电网有限公司科技项目(521104190007) (521104190007)

国家自然科学基金(51907168) (51907168)

四川省杰出青年科技人才项目(2020JDJQ0039). (2020JDJQ0039)

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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