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偏4°4H-SiC同质外延层上新形貌三角形缺陷研究

胡继超 王曦 贾仁需 蒲红斌 陈治明

人工晶体学报2020,Vol.49Issue(11):2206-2210,5.
人工晶体学报2020,Vol.49Issue(11):2206-2210,5.

偏4°4H-SiC同质外延层上新形貌三角形缺陷研究

New Type of Triangular Defects in 4H-SiC 4°Off-Axis Homoepitaxial Layers

胡继超 1王曦 1贾仁需 2蒲红斌 1陈治明1

作者信息

  • 1. 西安理工大学电子工程系,西安 710048
  • 2. 西安电子科技大学微电子学院,西安 710071
  • 折叠

摘要

关键词

4H-SiC/同质外延生长/三角形缺陷/形成机理

分类

数理科学

引用本文复制引用

胡继超,王曦,贾仁需,蒲红斌,陈治明..偏4°4H-SiC同质外延层上新形貌三角形缺陷研究[J].人工晶体学报,2020,49(11):2206-2210,5.

基金项目

国家自然科学基金(61904146) (61904146)

陕西省教育厅自然科学专项项目(18JK0585) (18JK0585)

陕西省重点研发计划(2018ZDXM-GY-003,2018ZDCXL-GY-01-01-01) (2018ZDXM-GY-003,2018ZDCXL-GY-01-01-01)

人工晶体学报

OA北大核心CSTPCD

1000-985X

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