机电工程技术2020，Vol.49Issue(11)：265-267,3.DOI:10.3969/j.issn.1009-9492.2020.11.083
IGBT模块PIN针失效风险改善研究
Research on Improvement of PIN Failure Risk of IGBT Module
程胭脂 1林川川 1李启国 1陈琛1
作者信息
- 1. 广州汽车集团股份有限公司汽车工程研究院,广州 511434
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摘要
关键词
IGBT/开槽设计/选择性波峰焊接/可靠性分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
程胭脂,林川川,李启国,陈琛..IGBT模块PIN针失效风险改善研究[J].机电工程技术,2020,49(11):265-267,3.
