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基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现

孙东 缪栋 张庆雅

现代电子技术Issue(7)：P.6-8,3.
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现代电子技术Issue(7)：P.6-8,3.

基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现

孙东 1缪栋 2张庆雅2

作者信息

  • 1. 第二炮兵工程学院
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摘要

关键词

边界扫描 测试系统 VLSI芯片

分类

信息技术与安全科学

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孙东,缪栋,张庆雅..基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现[J].现代电子技术,1998,(7):P.6-8,3.

现代电子技术

1004-373X

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