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测试技术学报
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存储测试信号统计特性分析
存储测试信号统计特性分析
贾熹滨
窦永彪
张文栋
刘俊
测试技术学报
Issue(3):P.319-322,4.
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测试技术学报
Issue(3)
:P.319-322,4.
存储测试信号统计特性分析
贾熹滨
1
窦永彪
2
张文栋
3
刘俊
4
作者信息
1.
[1]华北工学院
2.
[2]华北工学院 太原 030O51
3.
[3]太原 030O51
4.
[4]太原 030O51
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摘要
关键词
测试信号
/
统计特性
/
压缩编码
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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贾熹滨,窦永彪,张文栋,刘俊..存储测试信号统计特性分析[J].测试技术学报,1996,(3):P.319-322,4.
测试技术学报
ISSN:
1671-7449
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