|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|原子与分子物理学报|用共振电离—TOF质谱法进行同位素比值的高精度快速测量

用共振电离—TOF质谱法进行同位素比值的高精度快速测量

马万云 文克玲 陈瓞延

原子与分子物理学报Issue(S1)：P.278-278,1.
✕
原子与分子物理学报Issue(S1)：P.278-278,1.

用共振电离—TOF质谱法进行同位素比值的高精度快速测量

马万云 1文克玲 1陈瓞延2

作者信息

  • 1. 清华大学现代应用物理系
  • 折叠

摘要

关键词

同位素比值/TOF质谱/飞行时间/地质样品/地质成因/测量速度/快速测量/质谱技术/化学预处理/原子化

分类

数理科学

引用本文复制引用

马万云,文克玲,陈瓞延..用共振电离—TOF质谱法进行同位素比值的高精度快速测量[J].原子与分子物理学报,1990,(S1):P.278-278,1.

基金项目

国家科委 （）

"三0五"项目办公室支持 （）

原子与分子物理学报

OACSCD

1000-0364

访问量4
|
下载量0
段落导航相关论文