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用背散射方法研究砷离子注入单晶硅的分布和热退火后的再分布

王大椿 朱光华 卢殿通 卢志恒 郑胜男 赵玉华

北京师范大学学报:自然科学版Issue(2):P.57-62,6.
北京师范大学学报:自然科学版Issue(2):P.57-62,6.

用背散射方法研究砷离子注入单晶硅的分布和热退火后的再分布

王大椿 1朱光华 1卢殿通 2卢志恒 1郑胜男 1赵玉华2

作者信息

  • 1. 北京师范大学低能核物理所
  • 2. 中国科学院原子能研究所
  • 折叠

摘要

关键词

背散射分析/施主杂质/投影射程/注入能量/半导体材料/浓度分布/退火温度/峰值浓度/离子注入/退火条件

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王大椿,朱光华,卢殿通,卢志恒,郑胜男,赵玉华..用背散射方法研究砷离子注入单晶硅的分布和热退火后的再分布[J].北京师范大学学报:自然科学版,1983,(2):P.57-62,6.

北京师范大学学报:自然科学版

0476-0301

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