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环氧塑封料泊松比对球栅阵列封装可靠性的影响

李呈龙 钟诚 刘永超 郭蕊 鲁济豹 孙蓉

集成技术2021,Vol.10Issue(1):63-73,11.
集成技术2021,Vol.10Issue(1):63-73,11.DOI:10.12146/j.issn.2095-3135.20201119002

环氧塑封料泊松比对球栅阵列封装可靠性的影响

The Influence of Epoxy Molding Compound Poisson's Ratio on the Reliability of Ball Grid Array Packaging

李呈龙 1钟诚 2刘永超 3郭蕊 1鲁济豹 2孙蓉1

作者信息

  • 1. 中国科学院深圳先进技术研究院 深圳 518055
  • 2. 深圳先进电子材料国际创新研究院 深圳 518103
  • 3. 华中科技大学机械科学与工程学院 武汉 430074
  • 折叠

摘要

关键词

球栅阵列/有限元分析法/环氧塑封料/泊松比/焊点疲劳寿命

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

李呈龙,钟诚,刘永超,郭蕊,鲁济豹,孙蓉..环氧塑封料泊松比对球栅阵列封装可靠性的影响[J].集成技术,2021,10(1):63-73,11.

基金项目

科技部国家重点研发计划项目(2020YFB0408700, 2020YFB0408703) (2020YFB0408700, 2020YFB0408703)

深圳市基础研究项目(JCYJ20180302145742105) (JCYJ20180302145742105)

中国科学院深圳先进技术研究院优秀青年创新基金项目(201803) (201803)

集成技术

2095-3135

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