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一种基于特征的LED晶元自动定位与检测方法

陈自立 刘红林

中国计量大学学报2020,Vol.31Issue(4):437-441,481,6.
中国计量大学学报2020,Vol.31Issue(4):437-441,481,6.DOI:10.3969/j.issn.2096-2835.2020.04.005

一种基于特征的LED晶元自动定位与检测方法

A feature-based automatic LED chip location and detection method

陈自立 1刘红林1

作者信息

  • 1. 中国计量大学光学与电子科技学院,浙江杭州310018
  • 折叠

摘要

关键词

晶元定位/阈值分割/图像拼接

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈自立,刘红林..一种基于特征的LED晶元自动定位与检测方法[J].中国计量大学学报,2020,31(4):437-441,481,6.

中国计量大学学报

OACHSSCD

2096-2835

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