液晶与显示2021，Vol.36Issue(2)：246-257,12.DOI:10.37188/CJLCD.2020-0213
ITO区黑化法修复亮点理论模型及工艺参数分析
Theoretical model and process parameter analysis of ITO area blackening method for repairing bright spot
吴国东 1乔律华 1韩海滨 1王彬 1张少芬 1聂竹华 1蔡云牧 1王贺卫1
作者信息
- 1. 合肥京东方显示技术有限公司,安徽 合肥 230012
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摘要
关键词
黑化/修复/工艺参数/修复成功率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
吴国东,乔律华,韩海滨,王彬,张少芬,聂竹华,蔡云牧,王贺卫..ITO区黑化法修复亮点理论模型及工艺参数分析[J].液晶与显示,2021,36(2):246-257,12.
