真空电子技术Issue(6)：28-34,7.DOI:10.16540/j.cnki.cn11-2485/tn.2020.06.07
基于Wiener-Arrhenius模型的行波管阴极可靠性分析
Cathode Reliability Analysis of TWTs Based on Wiener-Arrhenius Model
王小宁 1苏小保 2俞世吉 3方有维 1缪国兴 2程海龙1
作者信息
- 1. 中国科学院空天信息创新研究院,北京100094
- 2. 中国科学院大学,北京100049
- 3. 中国航天标准化研究所,北京100071
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摘要
关键词
行波管/寿命预测/Wiener-Arrhenius模型/阴极发射电流/ADT分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王小宁,苏小保,俞世吉,方有维,缪国兴,程海龙..基于Wiener-Arrhenius模型的行波管阴极可靠性分析[J].真空电子技术,2020,(6):28-34,7.
