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低维纳米材料热电性能测试方法研究

魏江涛杨亮亮秦源浩宋培帅张明亮杨富华王晓东

物理学报2021，Vol.70Issue(4)：22-41,20.

物理学报2021，Vol.70Issue(4)：22-41,20.DOI:10.7498/aps.70.20201175

低维纳米材料热电性能测试方法研究

Methodology of teasting thermoelectric properties of low-dimensional nanomaterials

魏江涛 ¹杨亮亮 ¹秦源浩 ²宋培帅 ²张明亮 ¹杨富华 ¹王晓东²

作者信息

1. 中国科学院半导体研究所半导体集成技术工程研究中心, 北京 100083
2. 中国科学院大学微电子学院及材料与光电研究中心, 北京 100049
折叠

摘要

关键词

热电效应/纳米材料/微机电结构/热导率

引用本文复制引用

魏江涛,杨亮亮,秦源浩,宋培帅,张明亮,杨富华,王晓东..低维纳米材料热电性能测试方法研究[J].物理学报,2021,70(4):22-41,20.

基金项目

国家重点研发计划 (批准号: 2019YFB1503602, 2018YFB1107502)、中国科学院先导 B项目 (批准号: XDB43020500)和中国科学院科研仪器设备研制项目(批准号: GJJSTD20200006)资助的课题. （批准号: 2019YFB1503602, 2018YFB1107502）

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

ISSN：1000-3290

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